相位差設(shè)備
相位差設(shè)備
“ 打破進(jìn)口設(shè)備在光學(xué)膜、雙折射材料行業(yè)中相位差測量的20多年壟斷 ”
PLM-100系列是公司精心設(shè)計(jì)研發(fā)及生產(chǎn)的一款高精度相位差軸角度測量儀。該設(shè)備可解析多層相位差，是對吸收軸角度、快慢軸角度、相位差、偏光度、色度及透過率等進(jìn)行高精密測量；是結(jié)合偏光解析和一般光學(xué)特性分析于一體的設(shè)備，并提供不同型號，供客戶選配。
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